判斷題耦合劑的聲特性阻抗應(yīng)盡量與被檢測(cè)工件的聲特性阻抗相近,聲特性阻抗相近,進(jìn)入工件的聲能損失越大,回波輻度降低,影響反射和對(duì)裂紋波的判定。
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通常所謂20KV的X射線是指()
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超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
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底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
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一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
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不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
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