對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）

一次完整的兩面多層補焊，當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測，若反面還需打底，則無需X射線檢測。

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

二次打底焊接或重熔排除，無需辦理相關手續(xù)，直接使用前次的申請手續(xù)。

為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認。

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應立即（）。

X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注，確保定位準確。

在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。

超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。