二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關(guān)于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯誤的（）

影響較大的散射線通常來自（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）

一般認為表面波探測的有效深度約為（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

不同材料的相對吸收系數(shù)（）