單項(xiàng)選擇題JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁懸液的施加不可采用()

A.噴灑法
B.澆灑法
C.浸泡法
D.刷涂法


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1.單項(xiàng)選擇題采用非熒光檢測(cè)工件時(shí),對(duì)磁痕的觀察環(huán)境應(yīng)為()

A.黑光燈下
B.一定強(qiáng)度的可見光下
C.熒光下
D.暗室

2.單項(xiàng)選擇題適合于磁粉探傷的材料是()

A.順磁性材料
B.有色金屬
C.鐵磁性材料
D.抗磁性材料

3.單項(xiàng)選擇題DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,遇有哪種情況時(shí),應(yīng)對(duì)儀器和探頭系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核()

A.校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)
B.開路電壓波動(dòng)或者檢測(cè)者懷疑靈敏度有變化時(shí)
C.連續(xù)工作4小時(shí)以上,以及工作結(jié)束時(shí)
D.以上都是

最新試題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題