判斷題集成電路型及微機(jī)型保護(hù)在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)過(guò)程中允許拔出插板測(cè)試,但只允許用廠家提供的測(cè)試孔或測(cè)試板進(jìn)行測(cè)試工作。
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