A.中心位置右移
B.中心位置左移
C.分布曲線陡峭一些
D.分布曲線平坦一些
E.兩尾部翹得低一些
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A.所有個(gè)體值對(duì)總體均數(shù)的離散程度
B.某一個(gè)樣本均數(shù)對(duì)總體均數(shù)的離散程度
C.所有樣本均數(shù)對(duì)總體均數(shù)的離散程度
D.某些樣本均數(shù)對(duì)總體均數(shù)的離散程度
E.所有含量相同的樣本均數(shù)對(duì)總體均教的離散程度
A.兩總體均數(shù)確有差別時(shí),按α水準(zhǔn)發(fā)現(xiàn)這種差別的能力
B.兩總體均數(shù)確有差別時(shí),按1-β水準(zhǔn)發(fā)現(xiàn)這種差別的能力
C.與α有關(guān)
D.與樣本例數(shù)有關(guān)
E.與兩總體均數(shù)間的位置有關(guān)
A.比標(biāo)準(zhǔn)差大
B.比標(biāo)準(zhǔn)差小
C.與標(biāo)準(zhǔn)差無關(guān)
D.與標(biāo)準(zhǔn)差相等
E.以上均不正確
A.兩樣本均數(shù)不等
B.兩樣本均數(shù)相等
C.兩總體均數(shù)不等
D.兩總體均數(shù)相等
E.樣本均數(shù)等于總體均數(shù)
A.一定要計(jì)算檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量
B.檢驗(yàn)水準(zhǔn)的符號(hào)為β
C.P可以事先確定
D.備擇假設(shè)用H0表示
E.假設(shè)檢驗(yàn)是針對(duì)總體的特征進(jìn)行
最新試題
兩樣本均數(shù)差別的假設(shè)檢驗(yàn)用t檢驗(yàn)的條件是()
進(jìn)行四格表卡方檢驗(yàn)時(shí),用矯正公式的是()
衛(wèi)生統(tǒng)計(jì)學(xué)主要用于()
繪制統(tǒng)計(jì)圖的基本要求是()
標(biāo)準(zhǔn)化時(shí)應(yīng)注意()
標(biāo)準(zhǔn)誤的應(yīng)用包括()
t分布曲線與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布曲線比較,有如下特點(diǎn)()
多元線性回歸分析中,要求的條件有()
抽樣調(diào)查決定樣本大小的原則是()
廣義的統(tǒng)計(jì)表包括()