單項(xiàng)選擇題

磁粉探傷無(wú)法探測(cè)零件內(nèi)部缺陷的原因是（）。

A．漏磁磁場(chǎng)的強(qiáng)度太弱
B．磁力線無(wú)法溢出零件表面形成漏磁場(chǎng)
C．零件內(nèi)部無(wú)磁力線
D．磁力線與缺陷平行

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