單項(xiàng)選擇題電子儀器更換電池，兩塊一起換容易造成（）。
A.電子儀器內(nèi)部存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)丟失
B.儀器短路
C.電流增大而燒壞儀器
D.充電器損壞
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1.單項(xiàng)選擇題變形監(jiān)測(cè)是對(duì)建（構(gòu)）筑物及其地基、建筑基坑或（）的位移、沉降、傾斜、撓度、裂縫和相關(guān)影響因素（如地下水、溫度、應(yīng)力應(yīng)變等）進(jìn)行監(jiān)測(cè)，并提供變形分析預(yù)報(bào)的過程。
A.一定范圍內(nèi)的巖體及土體
B.附屬構(gòu)筑物
C.臨近的建（構(gòu)）筑物
D.橋梁、隧道
2.單項(xiàng)選擇題三等水準(zhǔn)測(cè)量。高差閉合差限差為（）。
A.±60√n或者土12√L
B.±4√n或者±10√L
C.士4√n或者士12√L
D.士6√n或暫±10√L
3.單項(xiàng)選擇題三等水準(zhǔn)測(cè)量各測(cè)站前后視距差應(yīng)（）。
A.≤3m
B.≤6m
C.≤10m
D.≤4m
4.單項(xiàng)選擇題變形監(jiān)測(cè)的主要內(nèi)容有（）、垂直位移監(jiān)測(cè)、三維位移監(jiān)測(cè)、主體傾斜、撓度觀測(cè)、檢測(cè)體裂縫、應(yīng)力應(yīng)變監(jiān)測(cè)
A.水平位移監(jiān)測(cè)
B.變形點(diǎn)監(jiān)測(cè)
C.彎曲點(diǎn)監(jiān)測(cè)
D.結(jié)構(gòu)物中心點(diǎn)監(jiān)測(cè)
5.單項(xiàng)選擇題（）是全站儀的核心部件。
A.微處理器
B.寄存器系列
C.運(yùn)算器
D.控制器
最新試題
視準(zhǔn)軸、橫軸、豎軸、水準(zhǔn)管軸的英文縮寫表示為（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
角度交會(huì)放樣的步驟不包括（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
水系測(cè)繪時(shí)，如無特殊要求，一般測(cè)（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
閉合水準(zhǔn)路線平差計(jì)算的步驟不包括（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
下列敘述中不屬于全站儀坐標(biāo)放樣步驟的是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
GPS靜態(tài)定位有三項(xiàng)顯著特點(diǎn)，下列各項(xiàng)中不在其列的是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
由于電子技術(shù)和集成電路的發(fā)展，使測(cè)量?jī)x器進(jìn)一步向（）三化發(fā)展。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
水準(zhǔn)測(cè)量中，標(biāo)尺傾斜與讀數(shù)誤差影響的關(guān)系說法正確的是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
觀測(cè)條件基本相同、觀測(cè)質(zhì)量基本一致的各項(xiàng)觀測(cè)，叫做（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直角坐標(biāo)放樣的步驟不包括（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題