A.光源
B.火焰原子化器
C.單色器
D.檢測記錄裝置
E.吸收池
F.石墨爐
(G)進樣器
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你可能感興趣的試題
A.物理干擾
B.化學(xué)干擾
C.電離干擾
D.光譜干擾
E.磁場干擾
F.背景干擾
G.環(huán)境空氣質(zhì)量干擾
A.光強太弱
B.光強太強
C.各光波的摩爾吸光系數(shù)相近
D.各光波的摩爾吸光系數(shù)值相差較大
E.各光波的摩爾吸光系數(shù)相差10~100倍
F.有色物濃度太高
(G)有色物濃度過低
A.富燃火焰適合于測定易形成難解離氧化物的元素
B.原子吸收光譜法中檢測器具有將單色器分出的光信號鑒別的能力
C.石墨爐原子化器的背景干擾比火焰原子化器的背景干擾小
D.能與待測物形成穩(wěn)定、易揮發(fā)、易于原子化組分,而防止干擾發(fā)生的試劑被稱為保護劑
E.無火焰原子吸收光譜法的主要缺點是不能檢測難揮發(fā)的元素
F.能產(chǎn)生1%吸收時的元素濃度叫檢測下限
(G)在石墨爐原子化法中,為了消除石墨爐的記憶效應(yīng),可長時間空燒石墨管
A.使用了復(fù)合光
B.使用的是單色光
C.有色物濃度過大
D.有色物濃度較稀
E.有色溶液中有電離現(xiàn)象存在
F.有色溶液中有締合現(xiàn)象存在
(G)有色溶液中有互變異構(gòu)現(xiàn)象存在
A.比耳定律適用于一切濃度范圍內(nèi)有色溶液的測定
B.應(yīng)用比耳定律測定時的光波長不能隨意改變
C.比耳定律適用于復(fù)合光源
D.比耳定律僅適用于有色物質(zhì)的稀溶液
E.高離子強度下的較濃有色物溶液的吸收曲線是彎曲的
F.在較濃有色物溶液中比耳定律也適用
(G)比耳定律中溶液濃度與透光率強度呈正比
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最新試題
混合的意義是使制備樣品均勻,有()。
鐵、鎳、銅等離子與EDTA的絡(luò)合物穩(wěn)定性比鋅-EDTA的穩(wěn)定性()。
重量法操作中,洗滌沉淀的方法是()。
()因物料特性而不能保留底樣。
在重量法分析中,灼燒沉淀一般應(yīng)在()中進行。
分析實驗室中常用密封式震蕩研磨機的出料粒度是()。
X射線熒光光譜分析中,充氣正比探測器所用P10氣體中氬氣的比例為90%,()的比例為10%。
密封式震蕩研磨粉碎機給料最大粒度為()mm。
化學(xué)分析用鐵合金試樣的重量不應(yīng)小于()。
在水分測定過程中,干燥盤中的試樣厚度應(yīng)小于()mm。