A.標(biāo)識X射線
B.工業(yè)探傷γ源產(chǎn)生的射線
C.用來產(chǎn)生高對比度的窄束射線
D.由單一波長的電磁波組成的射線
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A.質(zhì)量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素
B.質(zhì)量數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素
C.中子數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素
D.質(zhì)子數(shù)相同而質(zhì)量數(shù)不同的元素
A.質(zhì)子、電子、光子
B.質(zhì)子、重子、電子
C.光子、電子、X射線
D.質(zhì)子、中子、電子
A.標(biāo)識X射線
C.用來產(chǎn)生高對比度的窄束射線
B.工業(yè)探傷γ源產(chǎn)生的射線
D.由單一波長的電磁波組成的射線
A.質(zhì)量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素;
B.質(zhì)量數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素;
C.中子數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素;
D.質(zhì)子數(shù)相同而質(zhì)量數(shù)不同的元素。
A.電荷
B.質(zhì)量
C.自旋
D.半衰期
最新試題
對于檢測白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無損檢測方法是()
以下關(guān)于聲發(fā)射檢測的特點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()
合格的底片應(yīng)至少滿足以下哪些質(zhì)量要求()
X射線的強(qiáng)度與下面哪個(gè)參數(shù)有關(guān)()
提高射線照相對比度,會產(chǎn)生的不利后果有()
核力與下列哪種因素?zé)o關(guān)()
射線檢測裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
有關(guān)射線膠片特性的敘述,正確的是()
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
射線照相法適用于下列哪種檢測對象()