多項(xiàng)選擇題紅外線分析儀測(cè)量氣室或晶片被污染后,使儀器靈敏度下降,測(cè)量誤差增大,在清洗氣室及窗口晶片時(shí),要選擇相應(yīng)的清洗劑,嚴(yán)禁破壞()的光滑度。

A、切光片
B、氣室內(nèi)壁
C、晶片
D、參比室


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2.多項(xiàng)選擇題發(fā)現(xiàn)紅外線分析儀指示大幅度擺動(dòng),一般是()等原因引起的。

A、電氣系統(tǒng)接觸不良
B、切光馬達(dá)停轉(zhuǎn)
C、穩(wěn)壓電源輸出不穩(wěn)定
D、切光片松動(dòng)

5.多項(xiàng)選擇題熔融指數(shù)儀的步進(jìn)電機(jī)不能啟動(dòng)可能是由于()引起的。

A、電機(jī)控制器沒(méi)有電源
B、電機(jī)控制器沒(méi)有信號(hào)
C、電機(jī)故障
D、控制器故障