問(wèn)答題敘述紅外線氣體分析儀回程的概念。
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1.單項(xiàng)選擇題紅外線氣體分析儀產(chǎn)生回程的原因是（）。
A、檢測(cè)器故障
B、測(cè)量室污染
C、測(cè)量光路比參比光路的光強(qiáng)
D、參比光路比測(cè)量光路的光強(qiáng)
2.多項(xiàng)選擇題紅外線氣體分析儀在檢測(cè)過(guò)程中環(huán)境溫度的變化可能對(duì)（）造成影響。
A、紅外輻射的強(qiáng)度
B、測(cè)量氣室連續(xù)流動(dòng)的氣樣密度
C、檢測(cè)器的正常工作
D、氣樣放空流速
3.問(wèn)答題簡(jiǎn)述如何避免電源頻率變化對(duì)紅外線氣體分析儀造成的影響。
4.多項(xiàng)選擇題當(dāng)樣品處理系統(tǒng)出現(xiàn)（）時(shí)，易造成樣品溫度達(dá)不到設(shè)定要求。
A、過(guò)濾部件損壞
B、回路串氣
C、有泄漏
D、局部堵塞
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