單項(xiàng)選擇題紅外線分析儀檢測(cè)器內(nèi)封裝（）氣體。

A、被測(cè)氣體
B、干擾組分
C、中性氣體
D、參比氣體


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1.單項(xiàng)選擇題紅外線分析儀參比氣室內(nèi)封裝（）氣體。

A、測(cè)量氣體
B、干擾組分
C、中性氣體
D、混合氣體

2.單項(xiàng)選擇題當(dāng)紅外線分析儀采用濾波氣室時(shí)，濾波氣室內(nèi)封裝（）氣體。

A、測(cè)量氣體
B、干擾組分
C、中性氣體
D、氮?dú)?/p>

3.單項(xiàng)選擇題當(dāng)干擾組分較多或進(jìn)行微量分析時(shí)，紅外線分析儀一般采用（）進(jìn)行濾波。

A、參比氣室
B、干涉濾光片
C、濾波氣室
D、測(cè)量氣室

4.單項(xiàng)選擇題在干擾組分濃度高或與待測(cè)組分特征吸收波長交叉較多時(shí)，紅外線分析儀一般采用（）進(jìn)行濾波。

A、參比氣室
B、干涉濾光片
C、濾波氣室
D、測(cè)量氣室

5.多項(xiàng)選擇題以下氣體能用紅外分析儀測(cè)量的是（）。

A、一氧化碳
B、乙烯
C、甲烷
D、氮?dú)?/p>