A.光源
B.可見(jiàn)光光源
C.OTDR
D.光功率計(jì)
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你可能感興趣的試題
A.通過(guò)“SDH保護(hù)類(lèi)型轉(zhuǎn)換”功能,可實(shí)現(xiàn)無(wú)保護(hù)鏈到1:1線性復(fù)用段的轉(zhuǎn)換
B.在創(chuàng)建MSP環(huán)、PP環(huán)時(shí),都必須按主環(huán)方向順次選中節(jié)點(diǎn)
C.創(chuàng)建PP環(huán)時(shí),可將節(jié)點(diǎn)屬性設(shè)置為SNC節(jié)點(diǎn)
D.在“SDH保護(hù)子網(wǎng)維護(hù)”功能界面,可以查看保護(hù)子網(wǎng)的節(jié)點(diǎn)信息、鏈路信息,以及節(jié)點(diǎn)上對(duì)應(yīng)的邏輯系統(tǒng)或保護(hù)組信息
A.OTDR
B.萬(wàn)用表
C.光功率計(jì)
D.路由探測(cè)儀
A.傳輸層
B.網(wǎng)絡(luò)層
C.物理層
D.數(shù)據(jù)鏈路層
A.3.01dBm
B.負(fù)0.5dBm
C.0.5dBm
D.負(fù)3dBm
A.會(huì)再次測(cè)到APS時(shí)間,且數(shù)值較上次大
B.有時(shí)可以測(cè)到時(shí)間,有時(shí)測(cè)不到
C.不會(huì)再次測(cè)到APS時(shí)間
D.會(huì)再次測(cè)到APS時(shí)間,且數(shù)值較上次小
最新試題
光纖內(nèi)部衰減隨距離的增加而減少。
光纖的制造過(guò)程可主要分為提純,熔煉,拉絲等。
測(cè)量模場(chǎng)直徑的方法有遠(yuǎn)場(chǎng)掃描法,可變孔徑法、刀口掃描法、近場(chǎng)掃描法等。
光纜應(yīng)確保埋深達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求,在鼠害嚴(yán)重部位可加鋼管或硬塑料管保護(hù)。
光纖套塑的目的是保護(hù)光纖的預(yù)涂覆層,增加光纖的熔接質(zhì)量。
因?yàn)檎凵渎孰S著在纖芯添加的摻雜劑而不同,所以材料色散就依存于摻雜濃度。
在環(huán)境變化較大或較長(zhǎng)時(shí)間為校準(zhǔn)或換電極的情況下,需要做放電檢查。
緊結(jié)構(gòu)光纖對(duì)光纖的保護(hù)作用不充分。
光纖模場(chǎng)直徑是隨光波波長(zhǎng)而變化的。
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