可選用:Ge(Li)半導(dǎo)體探測(cè)器,HpGe半導(dǎo)體探測(cè)器,NaI(FE.閃爍體計(jì)數(shù)器。
可選用:脈沖電離室,含碳面壘型半導(dǎo)體探測(cè)器。
最新試題
簡(jiǎn)述放射性勘探基本理論。
反映儀器性能的參數(shù)。
簡(jiǎn)述閃爍探測(cè)器。
簡(jiǎn)述γ測(cè)量。
簡(jiǎn)述閃爍探測(cè)器的工作原理。