A.工作曲線法
B.標(biāo)準(zhǔn)加入法
C.內(nèi)標(biāo)法
D.基體校正
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A.分析時間延長,測定結(jié)果偏高
B.分析時間延長,測定結(jié)果偏低
C.分析時間延短,測定結(jié)果偏高
D.分析時間延短,測定結(jié)果偏低
A.脫水劑
B.釋放劑
C.緩沖劑
D.保護(hù)劑
A.由于第三元素存在的變化,造成試樣分析間蒸氣成份和溫度的變化。
B.由于第三元素的存在,使分析譜線減弱造成干擾。
C.由于第三元素的存在,使分析譜線被吸收造成干擾。
D.由于第三元素的存在,使分析譜線被增強(qiáng)造成干擾。
A.做暗電流實(shí)驗(yàn),觀察其是否平穩(wěn)
B.做描跡,觀察測光強(qiáng)度的峰值好壞
C.做燈實(shí)驗(yàn),觀察相對標(biāo)準(zhǔn)偏差是否小于0.1%
D.操作人員根據(jù)經(jīng)驗(yàn)判斷
A.基體干擾,光學(xué)元件老化造成飄移
B.由于飄移校正樣發(fā)生了偏析
C.室溫的變化、震動的影響使鐵譜線的相對位置產(chǎn)生了微小的移動
D.操作人員不同
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