單項(xiàng)選擇題橫波斜探頭在斜楔材料和尺寸、晶片尺寸和頻率一定的條件下，進(jìn)入工件中的近場(chǎng)長(zhǎng)度隨（）的增大而縮短。
A.入射角
B.探頭前沿
C.入射點(diǎn)
D.以上都不是
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1.單項(xiàng)選擇題接觸法單晶片的斜探頭在被檢材料中的近場(chǎng)長(zhǎng)度與下述何種因素?zé)o關(guān)（）。
A.晶片尺寸
B.頻率
C.斜楔中的聲程
D.斜楔材料中的聲速
E.被檢材料聲速
F.耦合劑的聲阻抗
2.單項(xiàng)選擇題在超聲場(chǎng)中，缺陷回波聲壓隨著與聲源距離的加大呈指數(shù)規(guī)律單調(diào)下降的范圍稱(chēng)為（）。
A.近場(chǎng)區(qū)
B.遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
C.超聲場(chǎng)
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題