A、中性點(diǎn)直接接地
B、中性點(diǎn)經(jīng)消弧線圈接地
C、中性點(diǎn)經(jīng)小電阻接地
D、中性點(diǎn)不接地
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你可能感興趣的試題
A、絕緣電阻的吸收比
B、短路損耗
C、直流電阻
D、繞阻介質(zhì)損
A、直流泄漏試驗(yàn)
B、局部放電試驗(yàn)
C、介質(zhì)損試驗(yàn)
D、交流耐壓試驗(yàn)
A、8小時(shí)
B、16小時(shí)
C、24小時(shí)
D、48小時(shí)
A、短路
B、短路接地
C、開路
D、一端接地
A、繞組對(duì)鐵芯或地絕緣
B、繞組間絕緣
C、高壓對(duì)外殼的絕緣
D、分接開關(guān)分接間絕緣
最新試題
以下對(duì)1000kV電容式電壓互感器最上節(jié)分壓電容絕緣電阻測(cè)試接線說(shuō)法正確的是（）
變壓器新裝時(shí)，有載分接開關(guān)試驗(yàn)可以發(fā)現(xiàn)（）問(wèn)題。
下列哪些因素會(huì)導(dǎo)致35kV電容式電壓互感器絕緣電阻降低（）
測(cè)量電抗器電抗值時(shí)，對(duì)于測(cè)量裝置的要求有（）
下列哪些因素會(huì)影響電流互感器絕緣電阻測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性（）
下列哪些行為能夠使電容式電壓互感器絕緣電阻試驗(yàn)測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確（）
下列哪些因數(shù)會(huì)影響有載分接開關(guān)試驗(yàn)結(jié)果（）
用反接線測(cè)量電磁式電壓互感器介質(zhì)損耗因數(shù)及電容量，下列說(shuō)法正確的是（）
造成局部放電的原因有（）
直流耐壓試驗(yàn)過(guò)程中在交聯(lián)聚乙烯絕緣電纜及附件中會(huì)（）