單項(xiàng)選擇題觀片時(shí)，透過底片到達(dá)眼睛的光線亮度最好超過100cd/m2，當(dāng)透過光亮度低于約（）時(shí)，眼睛識(shí)別微小細(xì)節(jié)和低襯度的能力即迅速降低。

A、30cd/m2
B、100cd/m2
C、1000cd/m2
D、3000cd/m2


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1.單項(xiàng)選擇題能夠在工件上充分記錄工件厚度范圍的叫作（）。

A、底片靈敏度
B、底片寬容度
C、底片清晰度
D、源的強(qiáng)度

2.單項(xiàng)選擇題工件對(duì)比度受（）因素影響最大。

A、試件厚度差
B、射線的質(zhì)
C、散射線
D、以上均不對(duì)

3.單項(xiàng)選擇題在散射線的分類中，一般把散射輻射與透射輻射所成的夾角等于小于90°時(shí)稱之為（）。

A、前散射
B、背散射
C、側(cè)面散射
D、以上都不是

5.單項(xiàng)選擇題在下列哪種效應(yīng)中，光子以全部能量轉(zhuǎn)換成電子動(dòng)能（）。

A、光電效應(yīng)
B、康普頓效應(yīng)
C、電子對(duì)生成效應(yīng)
D、電離效應(yīng)

最新試題

當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。

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渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。

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渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關(guān)信息。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題