單項(xiàng)選擇題下列不屬于特征X射線的別稱的是()。

A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識X射線
D、連續(xù)X射線


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1.單項(xiàng)選擇題特征X射線又稱為()。

A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識X射線
D、以上都是

2.單項(xiàng)選擇題原子的組成部分為質(zhì)子、電子和()。

A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子

3.單項(xiàng)選擇題原子核中質(zhì)子的質(zhì)量約為()。

A、1.6726×10-24
B、3.167×10-27
C、9.109×10-31
D、5.478×10-24

4.單項(xiàng)選擇題射線照相法是利用X、γ射線穿透工件,以()作為記錄信息的無損檢測方法。

A、像質(zhì)計(jì)
B、膠片
C、評定尺
D、增感屏

5.單項(xiàng)選擇題脈沖超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率和()有關(guān)。

A、報(bào)警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時(shí)基電路

最新試題

采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()

題型:單項(xiàng)選擇題

渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()

題型:單項(xiàng)選擇題

缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()

題型:單項(xiàng)選擇題

對檢測儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。

題型:單項(xiàng)選擇題

用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。

題型:單項(xiàng)選擇題

()件對不同類型的檢測對象和要求,采用的方式各有不同。

題型:單項(xiàng)選擇題

渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。

題型:單項(xiàng)選擇題

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

題型:單項(xiàng)選擇題