直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對分析結(jié)果有影響。

氧氮分析儀器長期運(yùn)行和頻繁使用，儀器的各部件會(huì)發(fā)生老化和磨損，因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。

原子熒光儀中檢測器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對檢測原子熒光信號的干擾。

直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。

火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

X射線熒光光譜儀長時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標(biāo)元素，通常為基體元素。

ICP矩焰形成通稱點(diǎn)火，和火焰原子吸收法一樣，都是把工作氣體點(diǎn)燃，形成高溫的火焰。

從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。