A.原子熒光分析法是測(cè)量受激基態(tài)分子而產(chǎn)生原子熒光的方法
B.原子熒光分析屬于光激發(fā)
C.原子熒光分析屬于熱激發(fā)
D.原子熒光分析屬于高能粒子互相碰撞而獲得能量被激發(fā)
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A.光源
B.原子化器
C.檢測(cè)器
D.放大器
A.光源
B.單色器
C.原子化器
D.檢測(cè)器
A.鉻原子吸收359.35nm，發(fā)射357.87nm
B.鉛原子吸收283.31nm，發(fā)射283.31nm
C.銦原子吸收377.55nm，發(fā)射535.05nm
D.鈉原子吸收330.30nm，發(fā)射589.00nm
A.輻射能與氣態(tài)基態(tài)原子外層電子的相互作用
B.輻射能與氣態(tài)原子外層電子產(chǎn)生的輻射
C.輻射能與原子內(nèi)層電子產(chǎn)生的躍遷
D.電、熱能使氣態(tài)原子外層電子產(chǎn)生的躍遷
A.輻射能使氣態(tài)基態(tài)原子外層電子產(chǎn)生躍遷
B.輻射能使原子內(nèi)層電子產(chǎn)生躍遷
C.能量使氣態(tài)原子外層電子產(chǎn)生發(fā)射光譜
D.電、熱能使氣態(tài)原子外層電子產(chǎn)生發(fā)射光譜
最新試題
X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑，氧化劑只能以固體形式加入。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。
原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。
紅外碳硫儀中的紅外檢測(cè)池具有單一性，各紅外池間不可互相代用。
原子熒光儀中檢測(cè)器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測(cè)原子熒光信號(hào)的干擾。
X射線熒光光譜儀長時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。
碳硫分析儀器短期或長期不使用時(shí)，應(yīng)間隔一段時(shí)間，開一次機(jī)。
裝有乙炔氣體的鋼瓶必須放在避光的室內(nèi)，不能放在膠皮的上面。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。