您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.粒子的濃度
B.雜散光
C.化學(xué)干擾
D.光譜線干擾
A.直線下部向上彎曲
B.直線上部向下彎曲
C.直線下部向下彎曲
D.直線上部向上彎曲
A.向上彎曲
B.向下彎曲
C.變成折線
D.變成波浪線
A.暗箱
B.感光板
C.硒光電池
D.光電倍增管
A.激發(fā)溫度高
B.蒸發(fā)溫度高
C.穩(wěn)定性好
D.激發(fā)的原子線多
最新試題
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn),凝聚放電是好的,擴(kuò)散放電是不好的。
在原子熒光光譜分析中,同種元素銳線光源有利于共振熒光的激發(fā)。
ICP矩焰形成通稱點(diǎn)火,和火焰原子吸收法一樣,都是把工作氣體點(diǎn)燃,形成高溫的火焰。
X射線熒光光譜分析中,含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果,導(dǎo)致分析延時(shí)。
原子吸收光度法,WM-2H型無(wú)油氣體壓縮機(jī),表壓不在“0”為時(shí),不得開(kāi)機(jī)。
直讀光譜分析中,電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后,可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鎢鐵中碳硫含量,氧氣源發(fā)生改變時(shí),應(yīng)重新對(duì)工作曲線進(jìn)行校正。
X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑,氧化劑只能以固體形式加入。