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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】如果開(kāi)發(fā)時(shí)間緊迫，是否可以跳過(guò)單元測(cè)試而直接進(jìn)行集成測(cè)試？為什么？
答案：
不可以。因?yàn)闆](méi)有經(jīng)過(guò)單元測(cè)試的模塊會(huì)遺留大量的缺陷到集成測(cè)試階段，而在集成測(cè)試階段對(duì)這些缺陷定位困難，導(dǎo)致后續(xù)工作展開(kāi)困...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述單元測(cè)試的主要任務(wù)。
答案：
單元測(cè)試的主要任務(wù)是：模塊接口測(cè)試；局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)測(cè)試；路徑測(cè)試；錯(cuò)誤處理測(cè)試；邊界測(cè)試。
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】在單元測(cè)試中，所謂單元是如何劃分的？
答案：
單元測(cè)試的對(duì)象通常是軟件設(shè)計(jì)的最小邏輯單元，單元的劃分在面向過(guò)程的結(jié)構(gòu)化程序中一般是函數(shù)或子過(guò)程，在面向?qū)ο蟮某绦蛑锌梢?..
