A.只要X射線機(jī)的規(guī)格相同，其曝光曲線都是通用的；
B.曝光曲線一定后，實(shí)際使用中可對(duì)暗室沖洗溫度作修改；
C.曝光曲線一般只適用于透照厚度均勻的平板工件；
D.以上都是。
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A.其它條件一定，管電壓作為可變參數(shù)；
B.其它條件一定，曝光量作為可變參數(shù)；
C.其它條件一定，工件厚度作為可變參數(shù)；
D.以上都是。
A.環(huán)焊余高；
B.球罐壁厚；
C.安全劑量限值；
D.半值層。
A.環(huán)焊單臂外透法；
B.小徑管雙壁雙影法；
C.縱縫雙臂單影法；
D.環(huán)峰內(nèi)透偏心法。
最新試題
復(fù)合鋼板超聲波檢測(cè)可從復(fù)層一側(cè)或從基板一側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，選擇檢測(cè)面的依據(jù)為（）。
利用聲透鏡制作的聚焦探頭，要求聲透鏡中聲速大于透聲楔塊中聲速。
數(shù)字化探傷儀中的“采樣率”相當(dāng)于模擬式探傷儀中的（）。
圓盤(pán)形聲源的未擴(kuò)散區(qū)內(nèi)聲壓變化規(guī)律為（）。
如何利用壓電材料來(lái)選擇晶片？
當(dāng)缺陷聲程X=N/2（N 為探頭晶片近場(chǎng)長(zhǎng)度）時(shí)，由于此時(shí)主聲束處聲壓為零，故無(wú)法檢測(cè)。
聚焦探頭的焦點(diǎn)是一個(gè)聚焦區(qū)，焦柱長(zhǎng)度與焦柱直徑之比為常數(shù)，等于焦距與聲源直徑之比的4倍。
超聲波探頭發(fā)出的超聲波可視為球面波，示波屏上各次底面反射波的高度之比近似符合1：1/3：1/5。
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，承壓設(shè)備用無(wú)縫鋼管超聲檢測(cè)適用于（）。
對(duì)小口徑無(wú)縫鋼管檢測(cè)縱向缺陷時(shí)，超聲波束應(yīng)由（）。