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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試概念，并試分析兩者的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。
答案：
黑盒測(cè)試又稱為功能測(cè)試、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試和基于規(guī)格說(shuō)明的測(cè)試。它從用戶觀點(diǎn)出發(fā)的測(cè)試。用這種方法進(jìn)行測(cè)試時(shí)，把被測(cè)試程序當(dāng)作...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】什么是測(cè)試用例？測(cè)試用例的分類？
答案：
測(cè)試用例是測(cè)試執(zhí)行的最小實(shí)體，是為特定的目的而設(shè)計(jì)的一組測(cè)試輸入、執(zhí)行條件和預(yù)期的結(jié)果。分類：1白盒測(cè)試用例；2軟件各項(xiàng)...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】可采取哪些方法來(lái)分離和再現(xiàn)軟件缺陷？
答案：
1，確保所有的步驟都被記錄；2，注意時(shí)間和運(yùn)行條件上的因素；3，注意軟件的邊界條件、內(nèi)容容量和數(shù)據(jù)溢出的問(wèn)題；4，注意事...
