A.使用“歸一化法”定量分析同系物
B.使用“單點(diǎn)外標(biāo)法”直接比較定量分析組分含量
C.使用“內(nèi)標(biāo)法”定量分析一種組分的含量
D.繪制“內(nèi)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)曲線”
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A.色譜峰面積測(cè)量有一定誤差,必須校正
B.相同量的不同物質(zhì)在同一檢測(cè)器上響應(yīng)信號(hào)不同
C.色譜峰峰面積不一定與檢測(cè)信號(hào)成正比
D.組分的質(zhì)量分?jǐn)?shù)不等于該組分峰面積占所有組分峰面積的百分率
A.計(jì)算絕對(duì)校正因子必須精確測(cè)量絕對(duì)進(jìn)樣量
B.使用絕對(duì)校正因子必須嚴(yán)格控制操作條件的一致
C.使用絕對(duì)校正因子必須保證色譜峰面積測(cè)量的一致
D.計(jì)算絕對(duì)校正因子必須有足夠大的分離度
A.比絕對(duì)校正因子容易求得
B.相對(duì)校正因子沒有單位
C.相對(duì)校正因子僅與檢測(cè)器類型有關(guān)
D.不需要使用純物質(zhì)求算
A.組分的檢測(cè)靈敏度
B.對(duì)任意組分f都是相同的常數(shù)
C.與檢測(cè)器種類無關(guān)
D.單位面積代表的物質(zhì)量
A.Xi(%)—Ai/AS曲線
B.mi—AS曲線
C.mi—Ai/AS曲線
D.mi/mS—Ai/AS曲線
最新試題
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
紅外吸收法分析碳和硫時(shí),可以用同一個(gè)紅外池來檢測(cè)。
原子吸收光譜儀在使用氧化亞氮火焰時(shí),儀器應(yīng)具備防回火功能。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
鋼鐵中氫含量采用脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定時(shí),根據(jù)熱導(dǎo)池輸出電流值與氫的濃度關(guān)系,從校準(zhǔn)曲線上得到氫含量。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是()。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無需任何預(yù)處理。
原子吸收光譜測(cè)量的結(jié)果,只要線性好,平行好,結(jié)果準(zhǔn)確度就高。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域,即()。