利用偽距作空間交會來定位點位的方法稱為（）

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測量高程時應(yīng)使用（）

設(shè)A點高程1279.25m，B點上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測A點上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點的高程為（）

儀器及反光鏡的對中偏差均不應(yīng)大于（）。

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

DJ2光學(xué)經(jīng)緯儀的水平度盤讀數(shù)設(shè)定方法是，應(yīng)（），使水平度盤讀數(shù)對到需要設(shè)定的度數(shù)及的整數(shù)倍，同時使符合對徑分劃線上下精確對齊。

RTK測量的基本工作流程中，在至少（）個公共點上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點校正）。

四等導(dǎo)線測量全長相對閉合差的限差規(guī)定為（）。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

絕對定位定位精度為（）。