判斷題在磁粉探傷時(shí)，缺陷處所產(chǎn)生的漏磁通的大小與通過(guò)工件的磁通密度無(wú)關(guān)
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采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí)，焦距為1m，曝光時(shí)間為6min，其余條件均不變，曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為（）
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半價(jià)層厚度與（）相關(guān)。
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關(guān)于聲波的指向性和指向角，正確的是（）
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與直探頭相比，雙晶探頭（）
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磁力線有哪些特征？
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表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是（）
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關(guān)于聲壓往復(fù)透射率，以下敘述正確的是（）
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直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題