下列關(guān)于IIW試塊的說法，正確的是（）

小口徑管道射線探傷時(shí)常采用（）方法透照。

射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹枝狀花紋的原因是（）

射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后，其（）衰減一半。

底片干燥時(shí)，一般不得超過60℃，是因?yàn)椋ǎ?/p>

在探傷靈敏度確定后，缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>

與直探頭相比，雙晶探頭（）

水浸式垂直探傷鋼板時(shí)，超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有（）

在近場(chǎng)以外的部分，即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為（）

在射線照相時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）