與直探頭相比，雙晶探頭（）

底片干燥時(shí)，一般不得超過60℃，是因?yàn)椋ǎ?/p>

直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）

檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用（）

射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后，其（）衰減一半。

在射線照相時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）

焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1：1調(diào)整后，其始波前沿（）

散射比的大小與（）因素有關(guān)。

著色滲透劑應(yīng)具有（）性能。

表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是（）