判斷題磁場(chǎng)指示器可以反映試驗(yàn)工件表面磁場(chǎng)的方向。
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小口徑管道射線探傷時(shí)常采用()方法透照。
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半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
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直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
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在射線照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
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