最新試題

當(dāng)缺陷聲程X=N/2(N 為探頭晶片近場(chǎng)長(zhǎng)度)時(shí),由于此時(shí)主聲束處聲壓為零,故無(wú)法檢測(cè)。

題型:判斷題

雙晶直探頭的探測(cè)區(qū)為表面下的菱形區(qū),菱形區(qū)的中心離表面距離隨入射角增大而增大。

題型:判斷題

對(duì)奧氏體不銹鋼對(duì)接焊縫根部未熔合采用K1斜探頭檢測(cè)最合適。

題型:判斷題

利用聲透鏡制作的聚焦探頭,要求聲透鏡中聲速大于透聲楔塊中聲速。

題型:判斷題

聚焦探頭的焦點(diǎn)是一個(gè)聚焦區(qū),焦柱長(zhǎng)度與焦柱直徑之比為常數(shù),等于焦距與聲源直徑之比的4倍。

題型:判斷題

根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,采用6dB 法測(cè)定缺陷自身高度是利用()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

如何利用壓電材料來(lái)選擇晶片?

題型:?jiǎn)柎痤}

用有機(jī)玻璃制作水浸聚焦探頭進(jìn)行水浸探傷時(shí),當(dāng)溫度升高時(shí),焦距變大。

題型:判斷題

鋼焊縫中存在直徑為φ3mm 的兩個(gè)缺陷,一個(gè)為氣孔,一個(gè)為夾渣,用2.5MHZ橫波斜探頭檢測(cè),則該兩缺陷的反射指向性基本相同。

題型:判斷題

端點(diǎn)峰值法測(cè)得的缺陷指示長(zhǎng)度比端點(diǎn)6dB 法測(cè)得的指示長(zhǎng)度要小一些。

題型:判斷題