直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電是不好的。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。

選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。

原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。

X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑，氧化劑只能以固體形式加入。

在原子熒光光譜分析中，同種元素銳線光源有利于共振熒光的激發(fā)。

氧氮分析儀中稀土氧化銅的作用是將一氧化碳氧化為二氧化碳。

直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。

X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí)，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。