直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電是不好的。

原子熒光儀中檢測器與激發(fā)光源呈直角是為了消除激發(fā)光源對(duì)檢測原子熒光信號(hào)的干擾。

X射線熒光光譜儀長時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

ICP矩焰形成通稱點(diǎn)火，和火焰原子吸收法一樣，都是把工作氣體點(diǎn)燃，形成高溫的火焰。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。

原子熒光法做檢出限測試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測定7次。

原子吸收光度法，WM-2H型無油氣體壓縮機(jī)，表壓不在“0”為時(shí)，不得開機(jī)。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。

原子熒光儀更換空心陰極燈時(shí)應(yīng)先將主、輔電流調(diào)到零處，然后關(guān)閉主機(jī)電源才能換燈。