A、空氣
B、水
C、液氮
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你可能感興趣的試題
A、內(nèi)標(biāo)法
B、數(shù)學(xué)校正法
C、濾波
D、稀釋法
A、正比計(jì)數(shù)器
B、閃爍計(jì)數(shù)器
C、晶體計(jì)數(shù)器
D、硅(鋰)探測(cè)器
A、激發(fā)條件(Kv,mA.盡可能高
B、樣品室抽真空
C、使用脈沖高度選擇器
D、減小電流
A、較高的比較器水平可以縮短總的分析時(shí)間。
B、低的比較器水平包括了更多的試樣氣體,因此用于結(jié)果計(jì)算的氮和氧也多。
C、比較器水平設(shè)置過低,盡管包括的低濃度不顯著影響結(jié)果(噪聲),但會(huì)使分析延長(zhǎng)。
D、比較器水平越低越好。
A、C和Si;
B、Mn和As;
C、P和S
最新試題
X射線熒光光譜分析中,含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果,導(dǎo)致分析延時(shí)。
X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后,可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。
紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對(duì)二氧化硫的檢測(cè)。
直讀光譜儀使用一段時(shí)間后需要清理廢氣過濾器,廢氣過濾器需放置一段時(shí)間后才能打開,以防自燃。
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí),可以使用純氧化物配比建立工作曲線。
裝有乙炔氣體的鋼瓶必須放在避光的室內(nèi),不能放在膠皮的上面。
氧氮分析儀器長(zhǎng)期運(yùn)行和頻繁使用,儀器的各部件會(huì)發(fā)生老化和磨損,因此分析人員要定期檢查與維護(hù)儀器。
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn),凝聚放電是好的,擴(kuò)散放電是不好的。
火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。
碳硫分析儀器短期或長(zhǎng)期不使用時(shí),應(yīng)間隔一段時(shí)間,開一次機(jī)。