A.接頭面積 B.余高尺寸 C.接頭尺寸 D.接頭性能
A.射線和著色 B.磁粉、著色和熒光 C.超聲波和射線 D.超聲波和磁粉
A.非破壞性檢驗(yàn)和無(wú)損檢驗(yàn) B.射線探傷和磁粉探傷 C.超聲波探傷和射線探傷 D.破壞性檢驗(yàn)和非破壞性檢驗(yàn)