A.示蹤概念，細(xì)胞攝取概念
B.示蹤概念，自顯影概念
C.示蹤概念，動(dòng)力學(xué)概念
D.動(dòng)力學(xué)概念，細(xì)胞攝取概念
E.自顯影概念，細(xì)胞攝取概念
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最新試題
關(guān)于NaI（Tl）晶體閃爍探測(cè)器，正確說(shuō)法是（）。
放射性樣品的計(jì)數(shù)有一定的分布規(guī)律。當(dāng)平均計(jì)數(shù)大于20時(shí)，下列何種分布適用（）。
下列哪些因素影響井型γ計(jì)數(shù)器的測(cè)量結(jié)果（）。
評(píng)價(jià)閃爍體性能的主要指標(biāo)沒(méi)有（）。
原子核衰變主要取決于（）。
在測(cè)量放射性樣品的計(jì)數(shù)時(shí)，測(cè)量結(jié)果圍繞平均值的變化稱(chēng)為（）。
外層軌道電子向內(nèi)層移動(dòng)時(shí)放出的能量傳給一個(gè)軌道電子，使該電子帶著動(dòng)能離開(kāi)原子。該電子被稱(chēng)為（）。
下列與固體閃爍探測(cè)器沒(méi)有關(guān)系的是（）。
γ照相機(jī)準(zhǔn)直器的靈敏度高說(shuō)明（）。
康普頓效應(yīng)又稱(chēng)為（）。