A.設(shè)置的增益過低
B.設(shè)置的增益過高
C.A掃描參數(shù)設(shè)置出錯
D.PCS計算出錯
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A.校準試塊厚度和材質(zhì)應(yīng)與被檢測工件相同或相近
B.窄槽應(yīng)在開試塊的1/4厚度處和3/4厚度處
C.應(yīng)采集在上表面開口的窄槽的下端點信號進行校準
D.以上都對
A.69mm
B.138mm
C.92.35mm
D.112mm
A.選擇較大的PCS有利于提高分辨力
B.選擇較大的PCS有利于提高信噪比
C.選擇較大的PCS有利于獲得較大的覆蓋范圍
D.選擇較大的PCS有利于減小盲區(qū)
A.70°探頭分辨力更高一些
B.70°探頭信噪比更高一些
C.70°探頭波束覆蓋范圍更大一些
D.70°探頭近表面盲區(qū)更小一些
A.提高分辨力,所以應(yīng)選擇高頻率和小直徑探頭
B.提高信噪比,所以應(yīng)選擇低頻率和大直徑探頭
C.提高波束強度,所以應(yīng)選擇高頻率和大直徑探頭
D.提高波束的覆蓋范圍,所以應(yīng)選擇低頻率和小直徑探頭
最新試題
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以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
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