多項(xiàng)選擇題下列選項(xiàng)中,指標(biāo)恒為正的有()。

A.相關(guān)系數(shù)
B.判定系數(shù)
C.復(fù)相關(guān)系數(shù)
D.回歸方程的截距
E.回歸方程的斜率


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1.多項(xiàng)選擇題為了考察某種類(lèi)型的電子元件的使用壽命情況,假定該電子元件使用壽命的分布是正態(tài)分布。而且根據(jù)歷史記錄得知該分布的參數(shù)為:平均使用壽命μ0為100小時(shí),標(biāo)準(zhǔn)差σ為10小時(shí)?,F(xiàn)在隨機(jī)抽取100個(gè)該類(lèi)型的電子元件,測(cè)得平均壽命為102小時(shí),給定顯著性水平α=0.05,為了判斷該電子元件的使用壽命是否有明顯的提高,下列說(shuō)法正確的有()。

A.提出假設(shè)H0:μ≤100;H1:μ>100
B.提出假設(shè)H0:μ≥100;H1:μ<100
C.檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量及所服從的概率分布為
D.如果Z>Zα,則稱(chēng)與μ0的差異是顯著的,這時(shí)拒絕H0
E.檢驗(yàn)結(jié)果認(rèn)為該類(lèi)型的電子元件的使用壽命確實(shí)有顯著提高

3.多項(xiàng)選擇題設(shè)總體為正態(tài)總體,總體方差未知,在小樣本條件下,對(duì)總體均值進(jìn)行如下的假設(shè)檢驗(yàn)H0:μ=μ0,(μ0為已知數(shù));Hl:μ≠μ0,α=0.1。則下列說(shuō)法正確的有()。

A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
E.若檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量的絕對(duì)值越大,則原假設(shè)越容易被拒絕

4.多項(xiàng)選擇題在大樣本的情況下,檢驗(yàn)H0:μ=μo,H1:μ>μo,則()成立時(shí),可接受原假設(shè)。

A.實(shí)測(cè)顯著性水平P值<顯著性水平α
B.P值>α
C.Z<Z0
D.Z>Z0
E.Z>Zα/2

5.多項(xiàng)選擇題下面關(guān)于單側(cè)和雙側(cè)假設(shè)檢驗(yàn)的說(shuō)法正確的有()。

A.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱(chēng)為雙側(cè)假設(shè)檢驗(yàn)
B.右側(cè)檢驗(yàn)和左側(cè)檢驗(yàn)統(tǒng)稱(chēng)為單側(cè)檢驗(yàn)
C.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱(chēng)為左側(cè)檢驗(yàn)
D.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱(chēng)為右側(cè)檢驗(yàn)
E.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱(chēng)為右側(cè)檢驗(yàn)

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相關(guān)關(guān)系不是因果關(guān)系。()

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估計(jì)線(xiàn)性回歸方程中的回歸參數(shù)β0、β1時(shí),普遍采用的估計(jì)準(zhǔn)則是最小二乘準(zhǔn)則。()

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