判斷題TB/T2634—1995標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,高溫型探頭用字母H表示。
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缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
題型:判斷題
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
題型:判斷題
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
題型:判斷題
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時,入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
題型:判斷題
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
題型:判斷題
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
題型:判斷題
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
題型:判斷題
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
題型:判斷題
在檢測晶粒粗大和大型工件時,應(yīng)測定材料的衰減系數(shù),計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
題型:判斷題
對于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
題型:判斷題