單項選擇題下列()屬于聲發(fā)射信號的波形特征參數(shù)分析方法。

A.小波分析方法
B.現(xiàn)代譜分析方法
C.灰色關聯(lián)分析
D.以上都不是


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1.單項選擇題下列()屬于聲發(fā)射信號波形分析方法。

A.幅度分布分析
B.人工神經(jīng)網(wǎng)絡模式識別分析
C.能量與持續(xù)時間的關聯(lián)分析
D.以上都是

2.單項選擇題由()引起的聲發(fā)射信號是相關的聲發(fā)射信號。

A.風雨
B.氧化皮剝落
C.容器內(nèi)件活動
D.材質(zhì)局部屈服

3.單項選擇題()包括的信息量更大。

A.聲發(fā)射波形記錄
B.波形特征參數(shù)記錄
C.實時記錄
D.都可以

4.單項選擇題當采用譜分析的方法時,必須采用()采集和記錄聲發(fā)射信號。

A.低頻探頭
B.高頻探頭
C.窄頻帶探頭
D.寬頻帶探頭

5.單項選擇題對低于20kHz的噪聲,可采用()進行抑制。

A.門限設置
B.頻帶設置
C.時差設置
D.以上都可以

最新試題

二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。

題型:判斷題

缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。

題型:判斷題

像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應不小于識別閾值。

題型:判斷題

廢舊藥液應采用專用容器收集,定期送指定的機構(gòu)處理。

題型:判斷題

X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注,確保定位準確。

題型:判斷題

X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。

題型:判斷題