A.小波分析方法
B.現(xiàn)代譜分析方法
C.灰色關聯(lián)分析
D.以上都不是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.幅度分布分析
B.人工神經(jīng)網(wǎng)絡模式識別分析
C.能量與持續(xù)時間的關聯(lián)分析
D.以上都是
A.風雨
B.氧化皮剝落
C.容器內(nèi)件活動
D.材質(zhì)局部屈服
A.聲發(fā)射波形記錄
B.波形特征參數(shù)記錄
C.實時記錄
D.都可以
A.低頻探頭
B.高頻探頭
C.窄頻帶探頭
D.寬頻帶探頭
A.門限設置
B.頻帶設置
C.時差設置
D.以上都可以
最新試題
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。
缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應不小于識別閾值。
廢舊藥液應采用專用容器收集,定期送指定的機構(gòu)處理。
X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注,確保定位準確。
X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。