A.水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性、衰減器精度
B.動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測(cè)深度
C.垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率
D.靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力
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A.清洗器
B.聲透鏡
C.斜楔
D.延遲塊
A.愈大
B.愈小
C.不變
D.不一定
A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
A.聲速相同
B.尺寸相同
C.是固體
D.一個(gè)是液體一個(gè)是固體
A.鋼/空氣
B.鋼/水
C.鋼/鎢
D.鋼/銅
最新試題
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場(chǎng)的作用下,在工件中形成超聲波波源。
檢測(cè)曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線(xiàn)上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
儀器時(shí)基線(xiàn)比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí),儀器的時(shí)基線(xiàn)比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。
對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷,其回波高相差不大。