單項(xiàng)選擇題漏檢率和誤檢率是用來(lái)討論探傷設(shè)備性能指標(biāo)中的()。

A.靈敏度
B.速度
C.分辨率
D.可靠性


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1.單項(xiàng)選擇題做標(biāo)準(zhǔn)傷的試件必須與被檢試件()。

A.具有相同的自然缺陷
B.具有相同的長(zhǎng)度
C.具有相同的合金成分、形狀、規(guī)格及熱處理情況
D.具有相同的質(zhì)量

2.單項(xiàng)選擇題渦流探傷中采用的人工標(biāo)準(zhǔn)傷是()。

A.自然缺陷深度的度量標(biāo)準(zhǔn)
B.作為調(diào)整儀器用的標(biāo)準(zhǔn)當(dāng)量
C.自然缺陷體積的度量標(biāo)準(zhǔn)
D.自然缺陷截面積的度量標(biāo)準(zhǔn)

3.單項(xiàng)選擇題縱向刻痕標(biāo)準(zhǔn)傷最能模擬()。

A.橫向斷裂
B.針孔
C.疏松
D.自然的縱向裂紋

4.單項(xiàng)選擇題判斷被檢產(chǎn)品是否合格的標(biāo)準(zhǔn)稱為()。

A.性能標(biāo)準(zhǔn)
B.調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)
C.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
D.自然標(biāo)準(zhǔn)

5.單項(xiàng)選擇題用渦流技術(shù),可以自動(dòng)分選的是()。

A.不銹鋼和低碳鋼
B.銅和膠木
C.鋁和鎳
D.以上三類均可以

最新試題

點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。

題型:判斷題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過(guò)一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無(wú)需X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。

題型:判斷題