A.各種因素引起信號的相位不同
B.各種因素引起信號的幅度不同
C.各種因素引起信號的頻率不同
D.各種因素引起信號的調(diào)制頻率不同
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.掃描電路
B.報警電路
C.選通電路
D.濾波電路
A.標記器
B.放大器
C.相敏檢波器
D.記錄器
A.幅度
B.周期
C.信噪比
D.帶負載能力
A.經(jīng)移相的激勵信號
B.不經(jīng)移相的激勵信號
C.任意相位的正弦信號
D.以上三種都可以
A.通濾波器
B.旁路濾波器
C.高通濾波器
D.電源濾波器
最新試題
X射線探傷室應建立健全輻射安全管理制度及應急預案。
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
航天無損檢測人員的資格分為三個等級:Ⅰ級為初級,Ⅱ級為中級,Ⅲ級為高級。其中Ⅱ級人員應具備的能力有()。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
檢測申請時工序狀態(tài)應清楚、工序質(zhì)量應符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。