單項(xiàng)選擇題穿過(guò)式探頭的測(cè)量繞組匝數(shù)增加一倍,其上的感應(yīng)電壓為原有感應(yīng)電壓的()。

A.4倍
B.2倍
C.相等
D.1/2倍


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2.單項(xiàng)選擇題穿過(guò)式探頭中測(cè)量繞組上的感應(yīng)電流的大?。ǎ?。

A.與測(cè)量繞組直徑無(wú)關(guān)
B.與測(cè)量繞組直徑成正比
C.與測(cè)量繞組直徑平方成正比
D.與測(cè)量繞組直徑立方成正比

3.單項(xiàng)選擇題自比差動(dòng)式線圈中,兩個(gè)測(cè)量繞組的接法是()。

A.第一個(gè)繞組的“頭”接第二個(gè)繞組的“尾”
B.第二個(gè)繞組的“頭”接第一個(gè)繞組的“尾”
C.第一個(gè)繞組的“頭”接第二個(gè)繞組的“頭”
D.以上三種均可以

4.單項(xiàng)選擇題有效磁導(dǎo)率μeff是指()。

A.試件的真實(shí)磁導(dǎo)率
B.真空磁導(dǎo)率
C.一個(gè)假設(shè)的隨試件各點(diǎn)性能變化的磁導(dǎo)率
D.標(biāo)準(zhǔn)試件的相對(duì)磁導(dǎo)率

5.單項(xiàng)選擇題描述檢測(cè)線圈能區(qū)分開(kāi)兩個(gè)最近缺陷距離的術(shù)語(yǔ)是()。

A.分辨力
B.準(zhǔn)確度
C.靈敏度
D.線性度

最新試題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。

題型:判斷題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過(guò)一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無(wú)需X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。

題型:判斷題

檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。

題型:判斷題