單項(xiàng)選擇題由于()在材料中存在著自發(fā)磁疇,因而在進(jìn)行渦流探傷時(shí),在這種材料中既有渦流磁場(chǎng),也存在磁疇形成的磁場(chǎng).

A.有色金屬
B.稀有金屬
C.鐵磁金屬
D.貴金屬


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2.單項(xiàng)選擇題渦流涂層厚度測(cè)量?jī)x可用來(lái)測(cè)量().

A.導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層
B.導(dǎo)磁基體上的非磁性涂層
C.鋁合金上的氧化膜
D.以上都可以

3.單項(xiàng)選擇題材料的電導(dǎo)率和電阻率().

A.成正比
B.成反比
C.無(wú)關(guān)系
D.相等

4.單項(xiàng)選擇題管材上的鉆孔標(biāo)準(zhǔn)傷最能模擬().

A.泄漏
B.凹坑
C.短而嚴(yán)重的起皮
D.以上都可以

5.單項(xiàng)選擇題用作標(biāo)準(zhǔn)傷的試件必須與被檢試件().

A.具有相同的缺陷
B.具有相同的長(zhǎng)度
C.具有相同的合金成分、形狀、規(guī)格及熱處理狀況
D.具有相同的重量

最新試題

X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題