A.首先分析找出過程未受控的原因，即找出影響過程的異常變異原因，使過程達(dá)到受控。
B.首先分析找出標(biāo)準(zhǔn)差過大的原因，然后減小變異。
C.首先分析找出平均值太低的原因，用最短時(shí)間及最小代價(jià)調(diào)整好均值。
D.以上步驟順序不能肯定，應(yīng)該根據(jù)實(shí)際情況判斷解決問題的途徑。
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A：u
B：np
C：c
D：p
A.上下控制限的范圍一定與上下公差限的范圍相同
B.上下控制限的范圍一定比上下公差限的范圍寬
C.上下控制限的范圍一定比上下公差限的范圍窄
D.上下控制限的范圍與上下公差限的范圍是相互獨(dú)立的
A.用塞規(guī)，每次檢測(cè)100件作為一個(gè)樣本，用np控制圖
B.用塞規(guī)，每次檢測(cè)500件作為一個(gè)樣本，用np控制圖
C.用游標(biāo)卡尺，每次連續(xù)檢測(cè)5根軸，用X.R控制圖
D.用游標(biāo)卡尺，每次連續(xù)檢測(cè)10根軸，用X.R控制圖
A.生產(chǎn)根本不穩(wěn)定。
B.平面度指標(biāo)不服從正態(tài)分布
C.每天內(nèi)的平面度波動(dòng)不大，但每天間的平面度波動(dòng)較大
D.這兩張圖什么問題也不能說明
A.CCD有旋轉(zhuǎn)性，而Box-Beknken設(shè)計(jì)沒有旋轉(zhuǎn)性
B.CCD有序貫性，而Box-Beknken設(shè)計(jì)沒有序貫性
C.CCD試驗(yàn)點(diǎn)比BOX-Beknken設(shè)計(jì)試驗(yàn)點(diǎn)少
D.以上各項(xiàng)都對(duì)
最新試題
當(dāng)x是連續(xù)型數(shù)據(jù)，y是離散型數(shù)據(jù)，用以下哪種統(tǒng)計(jì)工具？（）
基本圖表中初步分析x和y關(guān)系的圖形主要有點(diǎn)圖、（）、（）、散點(diǎn)圖等
如果α=0.05；請(qǐng)問Zα/2=？（）
假設(shè)每次輪班可用時(shí)間為7.5小時(shí)，30分鐘調(diào)整時(shí)間，15分鐘計(jì)劃停工時(shí)間，15分鐘用于設(shè)備意外。請(qǐng)問設(shè)備的時(shí)間開動(dòng)率為（）.
有關(guān)全面生產(chǎn)性維護(hù)（TPM）的描述，不正確的是（）.
假設(shè)檢驗(yàn)中，如果P＜α（a通常=0.05），則以下結(jié)論正確的是：（）
下面哪個(gè)是生成響應(yīng)曲面最簡單的設(shè)計(jì)（）
在某MSA分析中發(fā)現(xiàn)其容差百分比為60%，不滿足MSA要求，黑帶考慮利用重復(fù)測(cè)量降低MSA誤差，以繼續(xù)使用原測(cè)量系統(tǒng)。請(qǐng)問，要將容差百分比降低到20%，最少要重復(fù)測(cè)量多少次（）
在同一個(gè)試驗(yàn)設(shè)定下，收集數(shù)個(gè)樣本（）稱為（），在同樣的實(shí)驗(yàn)條件下重復(fù)整個(gè)實(shí)驗(yàn)稱為（）。
DOE設(shè)計(jì)中，有9個(gè)因子，只有32次實(shí)驗(yàn)機(jī)會(huì)，請(qǐng)問以下答案錯(cuò)誤的是：（）