在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路頻率特性時(shí)，應(yīng)包括下列（）基本內(nèi)容。

光電檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)要求包括（）。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測(cè)器件。

以下是CCD的發(fā)明者有（）。

以下效應(yīng)可用于普朗克常量測(cè)量的是（）。

對(duì)于相干檢測(cè)方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。

光電探測(cè)器的選擇要點(diǎn)包括（）。

下列哪些儀器可以用于波帶板激光準(zhǔn)直應(yīng)用？（）

下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是（）。