計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。

光電探測(cè)器的選擇要點(diǎn)包括（）。

電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈（）。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

半導(dǎo)體激光器在激光外徑掃描儀中起到提供光源的作用。

熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測(cè)器件。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路時(shí)，需解決下面（）的動(dòng)態(tài)計(jì)算問(wèn)題。

在紅外數(shù)字計(jì)數(shù)器中，每當(dāng)物件通過(guò)紅外對(duì)射管中間一次，紅外光被遮擋一次，光電接收管的輸出電壓就發(fā)生一次變化。

成像測(cè)量法存在的問(wèn)題，是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí)，會(huì)造成放大倍率的變化，這會(huì)（）測(cè)量精度。因此，需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問(wèn)題。

以下不能用傅里葉變換光譜儀測(cè)量的是（）。